M. Becoulet;
G. Huysmans;
P. Thomas;
E. Joffrin;
F. Rimini;
P. Monier-Garbet;
A. Grosman;
P. Ghendrih;
V.Parail;
P. Lomas;
G. Matthews;
H. Wilson;
M. Gryaznevich;
G. Counsell;
A.Loarte;
G. Saibene;
R. Sartori;
A.Leonard;
P. Snyder;
T. Evans;
P. Gohil;
R. Moyer;
Y. Kamada;
N. Oyama;
T.Hatae;
K. Kamiya;
A.Degeling;
Y. Martin;
J. Lister;
J. Rapp;
C. Perez;
P. Lang;
A. Chankin;
T.Eich;
A. Sips;
J. Stober;
L. Horton;
A. Kallenbach;
W. Suttrop;
S. Saarelma;
S. Cowley;
J. Lönnroth;
M. Shimada;
A. Polevoi;
G. Federici;
JET EFDA Contributors;
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X. Garbet;
Y. Baranov;
G. Bateman;
S. Benkadda;
P. Beyer;
R. Budny;
F. Crisanti;
B. Esposito;
C. Figarella;
C. Fourment;
P. Ghendrih;
F. Imbeaux;
E. Joffrin;
J. Kinsey;
A. Kritz;
X. Litaudon;
P. Maget;
P. Mantica;
D. Moreau;
Y. Sarazin;
A. Pankin;
V. Parail;
A. Peeters;
T. Tala;
G. Tardini;
A. Thyagaraja;
I. Voitsekhovitch;
J. Weil;
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R. Wolf;
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X. Garbet;
Y. Baranov;
G. Bateman;
S. Benkadda;
P. Beyer;
R. Budny;
F. Crisanti;
B. Esposito;
C. Figarella;
C. Fourment;
P. Ghendrih;
F. Imbeaux;
E. Joffrin;
J. Kinsey;
A. Kritz;
X. Litaudon;
P. Maget;
P. Mantica;
D. Moreau;
Y. Sarazin;
A. Pankin;
V. Parail;
A. Peeters;
T. Tala;
G. Tardini;
A. Thyagaraja;
I. Voitsekhovitch;
J. Weil;
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R. Wolf;
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